01 / MAGNETIC INDUCTION
자기 유도식
PosiTector® 6000분리형 FS 프로브를 연결한 PosiTector 6000입니다. 사진은 자성 모재용 프로브 구성이며, 실제 측정에서는 모재와 두께 범위에 맞는 프로브를 선택합니다.© DeFelsko · 공식 이미지 출처 ↗센서의 자기장이 철 바탕 소재에 도달할 때 생기는 변화를 읽습니다. 센서와 철 사이의 비자성층이 두꺼워질수록 달라지는 신호를 두께로 환산합니다.
- 적합한 대상
- 철·탄소강 위 도장, 분체도장, 비자성 아연층의 총두께
- 적용 한계
- 알루미늄이나 비금속 바탕에는 적용할 수 없습니다. 일반 측정으로는 여러 층을 각각 분리하지 못합니다. 니켈층의 자성도 별도로 확인합니다.
- 측정 전 확인
- 바탕 소재의 자성, 곡률, 표면 조도와 모재 두께를 확인하고 동종 무도장 시편으로 영점을 조정합니다.
자기 응답 → 바탕까지의 거리
제조사 근거 자료 ↗02 / EDDY CURRENT
와전류식
PosiTector® 6000PosiTector 6000 제품군 참고 사진입니다. 사진의 FS는 자성 모재용 프로브이며, 비철금속의 와전류 측정에는 적합한 N 프로브가 필요합니다.© DeFelsko · 공식 이미지 출처 ↗교류 자기장이 금속 바탕에 와전류를 만들고, 코팅에 의해 달라지는 센서 신호를 측정합니다. 일반적인 진폭 감응 방식은 비자성 전도체 위 절연층에 사용합니다.
- 적합한 대상
- 알루미늄 위 아노다이징·분체도장, 구리 위 절연 코팅
- 적용 한계
- 일반 도막용 와전류식으로 금속 위 금속 도금을 바로 측정할 수 없습니다. 금속 도금용 위상 감응 방식은 별도 장비와 조건이 필요합니다.
- 측정 전 확인
- 바탕 소재의 전도도·자성, 가장자리 거리, 곡률과 측정 범위를 확인합니다.
와전류 응답 → 절연층 두께
제조사 근거 자료 ↗03 / ULTRASONIC WALL THICKNESS
초음파식 · 소재
PosiTector® UTG도장된 배관에서 PosiTector UTG를 사용하는 모습입니다. 코팅 영향을 제외한 배관 벽 두께를 얻으려면 장비의 측정 모드와 탐촉자 조합을 확인하고 실제 시편에서 검증해야 합니다.© DeFelsko · 공식 이미지 출처 ↗초음파가 재료 안을 통과한 뒤 뒷면에서 돌아오는 시간을 측정합니다. 재료의 음속과 왕복 시간을 알면 한쪽 면에서 두께를 구할 수 있습니다.
- 적합한 대상
- 금속 배관 잔존 두께, 금속판, 적합한 플라스틱·유리·복합재
- 적용 한계
- 재질, 결정립, 기공과 표면 상태가 신호에 영향을 줍니다. 도장이 있는 모재는 코팅 영향 배제 기능과 탐촉자 조합을 확인해야 합니다.
- 측정 전 확인
- 실제 재료의 음속, 탐촉자·주파수, 접촉 매질, 최소 두께와 표면 온도를 확인합니다.
d = v × Δt / 2
제조사 근거 자료 ↗04 / ULTRASONIC COATING
초음파식 · 코팅
PosiTector® 200목재 기타의 도장 두께를 측정하는 PosiTector 200입니다. 비금속 모재 위 코팅을 초음파로 측정하는 사례이며, 플라스틱 등 다른 모재·코팅 조합은 별도 시편 평가가 필요합니다.© DeFelsko · 공식 이미지 출처 ↗코팅의 표면과 경계에서 반사되는 초음파를 분석해 코팅 두께를 구합니다. 서로 다른 층의 반사 신호가 충분히 구분되면 개별 층 측정도 가능합니다.
- 적합한 대상
- 목재·플라스틱 위 수지 도장, 콘크리트·FRP 위 보호 코팅
- 적용 한계
- 모든 다층막을 분리할 수 있는 것은 아닙니다. 각 층의 최소 두께와 음향 차이가 필요하며, 매우 얇거나 부드러운 층은 시편 평가가 필요합니다.
- 측정 전 확인
- 코팅 재질, 총두께와 개별 층 두께, 경계면, 접촉 매질과 탐촉자 B/C/D 구성을 확인합니다.
경계면 에코 → 코팅 두께
제조사 근거 자료 ↗05 / X-RAY FLUORESCENCE
X선 형광식
X선을 조사하면 시편 원소마다 특징적인 형광 X선이 발생합니다. 원소 신호와 층 구조 모델을 이용해 금속층의 두께와 조성을 구합니다.
- 적합한 대상
- 아연·니켈·금 등의 도금, 합금 도금, 원소 구분이 가능한 다층 금속막
- 적용 한계
- 두께 범위는 원소·층 구조에 따라 달라집니다. 두꺼운 층은 신호 포화가 발생하며, 같은 원소의 경계는 구분이 어려울 수 있습니다.
- 측정 전 확인
- 층 순서, 원소·밀도, 측정 면적과 스폿 크기, 표준시편 및 차폐 구성을 확인합니다.
원소별 X선 강도 → 두께·조성
제조사 근거 자료 ↗06 / SPECTRAL REFLECTANCE
광학 반사식
빛이 막의 위아래 경계에서 반사되며 만들어내는 간섭 스펙트럼을 분석합니다. 굴절률과 층 구조를 포함한 광학 모델에 신호를 맞춰 두께를 계산합니다.
- 적합한 대상
- 실리콘 위 산화막, 포토레지스트, 투명·반투명 고분자 박막
- 적용 한계
- 불투명하거나 거친 막에 범용으로 적용할 수 없습니다. 재질의 굴절률·흡수율과 모델 설정이 결과에 영향을 줍니다.
- 측정 전 확인
- 파장대에서의 투명도, 표면 조도, 굴절률·흡수율, 층 순서와 측정 스폿을 확인합니다.
반사 간섭 스펙트럼 → 막 두께
제조사 근거 자료 ↗07 / CONTACT MICROMETRY
기계 접촉식
시편의 양쪽 면을 측정면 사이에 놓고 그 간격을 읽습니다. 일정한 측정력과 측정면 형상으로 반복성을 확보합니다.
- 적합한 대상
- 양면 접근이 가능한 단단한 판재·부품, 적정 측정력을 적용한 필름
- 적용 한계
- 바탕 위 코팅만 따로 구분하지 못합니다. 종이·연질 필름·고무는 측정력에 따라 눌리므로 전용 저압 측정기 검토가 필요합니다.
- 측정 전 확인
- 측정력, 측정면 크기, 평행도, 시편 변형과 양면 접근 여부를 확인합니다.
두 측정면의 간격 = 전체 두께
제조사 근거 자료 ↗08 / COULOMETRIC
전해식
정해진 면적의 금속 도금층을 전해액으로 용해합니다. 제거에 필요한 전하량과 재질 정보를 이용해 두께를 계산합니다.
- 적합한 대상
- 금속 도금층의 단층·다층 분석, 전기화학적 층 평가
- 적용 한계
- 측정 부위의 도금이 제거되는 파괴 측정입니다. 전해액과 코팅·모재 조합, 전류 효율 및 종말점 판별을 확인해야 합니다.
- 측정 전 확인
- 국부 손상 허용 여부, 전해액, 측정 셀 면적, 금속 재질과 층 순서를 확인합니다.
용해 전하량 ÷ 면적 → 도금 두께
제조사 근거 자료 ↗09 / CUT & OPTICAL INSPECTION
절개 단면식
알려진 각도로 코팅을 절개해 경사 단면을 만들고 현미경 눈금으로 층의 폭을 읽습니다. 절삭각에 해당하는 계수를 적용해 두께를 구합니다.
- 적합한 대상
- 금속·비금속 바탕 위 도장, 구분 가능한 단층·다층 코팅
- 적용 한계
- 시편에 절개 흔적이 남습니다. 연질막이나 취성막은 절개 품질에 따라 오차가 생길 수 있습니다.
- 측정 전 확인
- 절개 허용 여부, 커터 각도, 층의 색상 대비와 측정 눈금 분해능을 확인합니다.
단면 폭 × 커터 계수 = 층 두께
제조사 근거 자료 ↗